2020-10-10 15:14:31 責(zé)任編輯： 東莞瑞智 0
缺陷檢驗(yàn)、污漬檢驗(yàn)或一體式ic檢驗(yàn)全是十分典型性的工業(yè)視覺系統(tǒng)檢驗(yàn)的應(yīng)用方法。根據(jù)鋼件和生產(chǎn)制造流水線的情況不同，每個(gè)檢驗(yàn)都必須不同的功能。
視覺污點(diǎn)檢測(cè)機(jī)使用基本原理與工具方法：
1、區(qū)段視覺識(shí)別系統(tǒng)穿透CCD圖像傳感器將強(qiáng)度材料的轉(zhuǎn)變檢驗(yàn)為污點(diǎn)或邊沿。但是，逐一解決清晰度必須花銷很多的時(shí)間，而且噪音會(huì)對(duì)檢驗(yàn)結(jié)果造成危害。因而，視覺識(shí)別系統(tǒng)運(yùn)用由多個(gè)清晰度構(gòu)成的小地區(qū)的均值強(qiáng)度，該小地區(qū)被稱作“區(qū)段”，并穿透較為這種區(qū)段的均值強(qiáng)度來檢驗(yàn)污點(diǎn)。
2、污點(diǎn)檢驗(yàn)專工具的優(yōu)化算法（區(qū)段的較為和計(jì)算方法）檢驗(yàn)基本原理：依照用戶的實(shí)際要求，提出了藥片缺陷檢驗(yàn)的總體設(shè)計(jì)方案。因藥片表面為弧形，實(shí)驗(yàn)中必須整個(gè)視野內(nèi)光照均勻，并能夠檢驗(yàn)到藥片表面的臟污及缺損。采納球狀分布式對(duì)稱無影燈源，此燈源采納特制漫射板將光散射到不同方向，形成漸變球狀分布，使得整個(gè)球面目標(biāo)不同坡度的反光強(qiáng)度都一致，視覺污點(diǎn)檢測(cè)機(jī)使用基本原理與工具方法。
（1）將X方位特定為檢驗(yàn)方位時(shí)：污點(diǎn)檢驗(yàn)專勞動(dòng)力具精確檢測(cè)特定地區(qū)（區(qū)段）的均值強(qiáng)度，同時(shí)以四分之一個(gè)區(qū)段為間隔更改區(qū)段位置。它可明確四個(gè)區(qū)段中的最多和最少?gòu)?qiáng)度中間的差值，要緊主要包括標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段。該差值被稱作標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段的污點(diǎn)級(jí)不。當(dāng)污點(diǎn)級(jí)不超出現(xiàn)如今閥值時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段被稱作污點(diǎn)。被測(cè)地區(qū)中超出預(yù)置閥值的頻次被稱作“污點(diǎn)范疇”。該全過程不斷進(jìn)行，從而持續(xù)更改標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段在被測(cè)地區(qū)中的位置。
（2）將X和Y方位特定為檢驗(yàn)方位時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)區(qū)段為參考系，測(cè)算X和Y方位上的16個(gè)區(qū)段的最多強(qiáng)度和最少?gòu)?qiáng)度的差值。依照較為全部16個(gè)區(qū)段，而不僅僅僅X方位上的4個(gè)區(qū)段，可檢驗(yàn)更微小的強(qiáng)度轉(zhuǎn)變（污點(diǎn)）。在環(huán)形鋼件上檢驗(yàn)污點(diǎn)的基本原理PET瓶、滾動(dòng)軸承或O型圈等幾種環(huán)形鋼件必須對(duì)環(huán)形地區(qū)進(jìn)行視覺檢驗(yàn)。當(dāng)檢索環(huán)形地區(qū)時(shí)，程序流程另外實(shí)行極坐標(biāo)轉(zhuǎn)換。以便檢驗(yàn)污點(diǎn)，它將環(huán)形對(duì)話框（檢驗(yàn)區(qū)段）轉(zhuǎn)換為正方形，并在環(huán)形方位和半經(jīng)方位上較為區(qū)段的強(qiáng)度。
